E17900 - SEMI E179 - Specification for Protocol Buffers Common Components Revision:SEMI E179-0924 - Superseded 本スタンダードは，FPD偏光板の外観・厚さ・光学特性を測定するための実施要領を確立する。これらの方法は，製造，品質管理および開発業務に応用することができる。

本スタンダードは，FPD偏光板の外観・厚さ・光学特性を測定するための実施要領を確立する。これらの方法は，製造，品質管理および開発業務に応用することができる。

1-0698 (Reapproved 0706)

SEMI E40-1218 (title change)

This Safety Guideline applies to semiconductor manufacturing equipment that incorporates exhaust ventilation intended to be connected to user facilities’ exhaust ventilation system(s)

E17900 - SEMI E179 - Specification for Protocol Buffers Common Components Revision:SEMI E179-0924 - Superseded 本スタンダードは，FPD偏光板の外観・厚さ・光学特性を測定するための実施要領を確立する。これらの方法は，製造，品質管理および開発業務に応用することができる。* This Standard has the option to purchase the Current document with a redline document (Current + Redline). The redline document is included with the Current document as a comparison tool to help identify changes that have been made between the Current version and the previous version (Superseded). If differences should exist between the redline document and the Current document, the Current version is the official and authoritative version. 1